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Determination of Crystalline Phase and Amorphous Phase in Refractory Material by X-ray Diffraction Analysis losing The Rietveld Refinement

作者:OHBUCI-II. Y. YAMADA. H. ASAKURA. 1. TOMATSU and M. MURATA

作者单位:

刊名:耐火物

ISSN:

出版年:2014-11-01

卷:66

期:11

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分类号:

语种:英文

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