原文标准名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

英文标准名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method

中文主题词：尺寸, 晶体, 纳米材料, X射线, X射线分析

英文主题词：DIMENSIONAL DIMENSIONS SIZE SIZE CONTENT SIZES CRYSTALS NANOMATERIALS X-RAYS X RAYS X-RAY X-RAY ANALYSIS

标准号：GB/T 23413-2009

标准状态：现行

国别：中国

发布日期：2009-04-01

实施或试行日期：2009-12-01

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院

标准类型：方法

标准水平：国际先进

中国标准分类号：N;N78

国际标准分类号：19;19.100

页数：11

正文语种：中文

内容简介

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。