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XRF 中熔铸玻璃片法与粉末压片法在镁砂检测中的差异分析

作者:彭肖仟,雷中兴,周辉,郭丽萍,钟晓宁

作者单位:武钢耐火材料有限责任公司

会议录名称:第十七届全国耐火材料青年学术报告会

出版年:2020-10-12

起页:1

止页:7

总页数:7

馆藏号:

分类号:TQ175

语种:中文

会议名称:第十七届全国耐火材料青年学术报告会

会议地点:中国河南洛阳

会议时间:2020-10-12

会议主办者:中国金属学会、河南省科学技术协会和洛阳市人民政府

关键词:X射线荧光光谱法,熔铸玻璃片法,压片法,镁砂

内容简介

从标准样品配制、样片制备、测定条件的选择、数据处理等方面,介绍了采用 X 射线荧光光谱法(XRF)中熔铸玻璃片法与粉末压片法。在此基础上,通过检测镁砂样品中 MgO 与 SiO2含量,比较分析了以上两种方法所得到结果的差异。结果表明,采用 XRF 中熔铸玻璃片法与粉末压片法测定镁砂中的化学成分的重复性和再现性较好,且分析允许差在国家标准范围内,可满足镁砂分析化验的需要。两者相比,尽管粉样压片法所测结果的准确度及精密度偏低,但其检测总时间较短(从制样到出结果仅需要 40 min),仅为熔铸玻璃片法检测总时间的 10%左右。从检测功效角度考虑,采用粉样压片法既可以满足检测需求,又可大幅提高工作效率,降低分析成本。

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