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X射线荧光光谱法测定工业氧化铝中的微量元素

作者:杨朝芳

作者单位:阳泉市综合检验检测中心

刊名:山西冶金

ISSN:1672-1152

出版年:2023-06-30

卷:46

期:6

起页:30-32+35

止页:

分类号:TQ133.1;O657.34

语种:中文

关键词:工业氧化铝;熔融玻璃片法;X射线光谱分析;基体校正;

内容简介

采用工业氧化铝系列标准样品,加Li2B4O7-LiBO2混合熔剂熔铸成玻璃样片,建立测定氧化铝微量元素(Ga2O3、ZnO、CaO、SiO2、Fe2O3、TiO2、K2O和Na2O)的X射线荧光光谱分析曲线。通过谱线校正消除谱线干扰,按照经验α系数法进行基体校正,消除样品中各元素的吸收增强效应,校准曲线精密度品质因子低于0.07。使用建立的分析曲线对样品各微量组分进行检测,结果表明:各组分检测值相对标准偏差介于0.53%~9.09%之间,检测结果误差在GB/T 6609.30—2009标准要求的允许范围内。该检验方法的检验结果达到了精密度和准确度要求,为指导工业生产以及实验室质量控制奠定了基础。

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