作者：曲月华,王一凌,亢德华,王翠艳

作者单位：鞍钢股份有限公司技术中心

刊名：物理测试

ISSN：1001-0777

出版年：2011-10-15

卷：

期：S1

起页：165

止页：169

分类号：O657.34,TQ175.4

语种：中文

关键词：X射线荧光光谱,镁砂,熔融制样,烧损量,基体效应校正

内容简介

介绍了以国家标准物质作为参照物,采用熔融制样X射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁石、菱镁矿等碳酸盐样品烧损量对测定结果的影响和校正方法。方法各元素的精密度（RSD）在0.17%～3.44%（n=10）间,实验表明:所得分析结果能够满足镁砂中常见组分快速分析的需要,且方法的精准度和分析速度优于现行的湿法化学分析法。