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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铝硅质耐火材料中杂质含量

作者:程林波

作者单位:四川启明星铝业有限责任公司化验中心

刊名:四川有色金属

ISSN:1006-4079

出版年:2020-02-15

卷:

期:2

起页:60

止页:61,64

分类号:TQ175.12,O657.31

语种:中文

关键词:ICP-AES,铝硅质耐火材料,杂质含量

内容简介

试样采用硝酸、氢氟酸、硫酸溶解挥硅,剩余不溶物经过滤、灰化、灼烧,再以碳酸锂和硼酸熔融,以盐酸酸化。建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铝硅质耐火材料中氧化铁、氧化钛、氧化钙、氧化钾、氧化镁、氧化钠含量的测定方法。用本方法进行加标回收试验,回收率为96.8%~104.0%;进行标准样品测定试验,测定值与认定值一致,重复测定的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于2%。

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